Electromigration In Metals - Valeriy Sukharev - Hardback - English Book - Science: general issues

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Descrizione

Electromigration In Metals - Valeriy Sukharev - Hardback - English Book - Science: general issues

Learn to assess electromigration reliability, and design more resilient chips, from this comprehensive resource. Building from fundamental physics to advanced methodologies, this book enables the reader to develop highly reliable on-chip wiring stacks and power grids. This is an ideal text for materials scientists and chip design engineers.
  • Marchio: Unbranded
  • Categoria: Scienza, medicina e natura
  • Autore: Valeriy Sukharev
  • Numero di pagine: 430
  • Casa editrice/Casa discografica: Cambridge University Press
  • Lingua: English
  • Formato: Hardback
  • ID Fruugo: 405396732-859935214
  • ISBN: 9781107032385

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