Scanning Transmission Electron Microscopy Advanced Characterization Methods For

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Scanning Transmission Electron Microscopy Advanced Characterization Methods For

This Book Focuses On Explaining And Applying The Principles Of Machine Learning-based Techniques And Advanced Image Processing Methods Currently In The Electron Microscopy Community Suitable For Handling Large Electron Microscopy Data Sets And Extracting Structure-property Information For Various Materials.
  • Marchio: Taylor & Francis Ltd
  • Categoria: Computer e internet
  • Autore: Taylor & Francis Ltd
  • Numero di pagine: 164
  • Casa editrice/Casa discografica: Taylor & Francis Ltd
  • Lingua: English
  • Data di pubblicazione: 2024-10-07
  • Formato: Paperback
  • ID Fruugo: 550923903-1115602109
  • ISBN: 9780367655389
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