Introduction To Focused Ion Beam Nanometrology
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- Marchio: Morgan & Claypool Publishers LLC-IOP
Dettagli del prodotto
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Introduction To Focused Ion Beam Nanometrology
- Marchio: Morgan & Claypool Publishers LLC-IOP
- Categoria: Computer e internet
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Autore: David C. Cox
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Numero di pagine: 84
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Casa editrice/Casa discografica: Morgan & Claypool Publishers LLC-IOP
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Lingua: English
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Data di pubblicazione: 2015-10-01
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Formato: Hardcover
- ID Fruugo: 557102689-1125371655
- ISBN: 9781643278469
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