Reliability Prediction From Burn-in Data Fit To Reliability Models

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Reliability Prediction From Burn-in Data Fit To Reliability Models

Helps You Educate Chip And System Designers On A Method For Accurately Predicting Circuit And System Reliability In Order To Estimate Failures That Will Occur In The Field As A Function Of Operating Conditions At The Chip Level.
  • Marque: Elsevier Inc
  • Catégorie: Informatique et Internet
  • Auteur: Joseph Bernstein
  • Nombre de pages: 108
  • Date de publication: 2014-03-07
  • Editeur / Label: Elsevier Inc
  • Format: Paperback
  • Langue: English
  • Identifiant Fruugo: 550905349-1115583303
  • ISBN: 9780128007471
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