Surface Infrared And Raman Spectroscopy Methods And Applications

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Are Intended To Fill The Gap Between A Manufacturers Handbook, And Review Articles That Highlight The Latest Scientific Developments. A Fourth Volume Will Deal With Techniques For Specimen Handling, Beam Artifacts, And Depth Profiling. It Will Provide A Compilation Of Methods That Have Proven Useful For Specimen Handling And Treatment, And It Will Also Address The Common Artifacts And Problems Associated With The Bombardment Of Solid Sur Faces By Photons, Electrons, And Ions.
  • Identifiant Fruugo: 550915959-1115594058
  • ISBN: 9780306449635
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