Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability A Physics Of
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Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability A Physics Of
- Marque: Taylor & Francis Ltd
- Catégorie: Informatique et Internet
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Auteur: Pradeep Lall
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Nombre de pages: 336
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Date de publication: 2019-06-19
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Editeur / Label: Taylor & Francis Ltd
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Format: Paperback
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Langue: English
- Identifiant Fruugo: 550921083-1115599335
- ISBN: 9780367400972
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