Thermal-aware Testing Of Digital Vlsi Circuits And Systems
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- Marque: Taylor & Francis Ltd
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Thermal-aware Testing Of Digital Vlsi Circuits And Systems
- Marque: Taylor & Francis Ltd
- Catégorie: Informatique et Internet
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Auteur: Santanu Chattopadhyay
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Nombre de pages: 140
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Date de publication: 2020-06-30
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Editeur / Label: Taylor & Francis Ltd
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Format: Paperback
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Langue: English
- Identifiant Fruugo: 550924069-1115602351
- ISBN: 9780367607098
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