Introduction To Focused Ion Beam Nanometrology
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Introduction To Focused Ion Beam Nanometrology
- Marque: Morgan & Claypool Publishers LLC-IOP
- Catégorie: Informatique et Internet
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Auteur: David C. Cox
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Nombre de pages: 84
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Date de publication: 2015-10-01
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Editeur / Label: Morgan & Claypool Publishers LLC-IOP
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Format: Hardcover
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Langue: English
- Identifiant Fruugo: 557102689-1125371655
- ISBN: 9781643278469
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