Kelvin Probe Force Microscopy Measuring And Compensating Electrostatic Forces

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Kelvin Probe Force Microscopy Measuring And Compensating Electrostatic Forces

Over The Nearly 20 Years Of Kelvin Probe Force Microscopy, An Increasing Interest In The Technique And Its Applications Has Developed. This Book Gives A Concise Introduction Into The Method And Describes Various Experimental Techniques. Surface Potential Studies On Semiconductor Materials, Nanostructures And Devices Are Described, As Well As Application To Molecular And Organic Materials.
  • Marque: Springer Nature B.V
  • Catégorie: Informatique et Internet
  • Auteur: Springer Nature B.V
  • Nombre de pages: 348
  • Date de publication: 2013-11-30
  • Editeur / Label: Springer Nature B.V
  • Format: Paperback
  • Langue: English
  • Identifiant Fruugo: 557245871-1125515704
  • ISBN: 9783642271137
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