Defect and Microstructure Analysis by Diffraction
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Defect and Microstructure Analysis by Diffraction
- Marque: Unbranded
- Catégorie: Éducation
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Date de publication: 2000/01/06
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Nombre de pages: 808
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Editeur / Label: OUP Oxford
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Format: Couverture cartonnée
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Langue: Anglais
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Artiste: Snyder R. L.
- Identifiant Fruugo: 337944739-741604449
- ISBN: 9780198501893
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