High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

L’étude et l’application des matériaux électroniques ont créé une demande croissante de techniques sophistiquées et fiables pour l’examen et la caractérisation de ces matériaux. Ce livre complet examine le domaine de la diffraction des rayons X et les techniques modernes disponibles pour le déploiement dans la recherche, le développement et la production. Il fournit le contexte théorique et pratique pour l’application de ces techniques à la caractérisation scientifique et industrielle des matériaux. L’objectif principal de l’ouvrage est de cartographier le contexte théorique et pratique nécessaire à l’étude des matériaux monocristallins au moyen de la diffraction des rayons X à haute résolution et de la topographie. Il combine des formalismes mathématiques avec des explications graphiques et des conseils pratiques pour l’interprétation des données. Langue : Anglais