ESD: Failure Mechanisms and Models

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ESD : Mécanismes et modèles de défaillance

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Description

ESD: Failure Mechanisms and Models

Fournit une analyse complète des mécanismes de défaillance des décharges électrostatiques (DES) sur une large gamme de circuits et d'applications de matériaux semi-conducteurs. Présente des méthodes pour éliminer les mécanismes de défaillance grâce à des solutions de circuits exploitables, incluant des exemples concrets de défaillances.
  • Marque: John Wiley & Sons Inc
  • Catégorie: Sciences, Médecine et Nature
  • Auteur: Steven H. Voldman (membre de l'IEEE, Vermont, États-Unis)
  • Date de publication: 10/02/2025
  • Nombre de pages: 408
  • Editeur / Label: John Wiley & fils Inc
  • Format: Couverture cartonnée
  • Langue: Anglais
  • Identifiant Fruugo: 434360967-911568296
  • ISBN: 9780470511374

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