Yield Simulation for Integrated Circuits

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Description

1. Introduction. - 2. Background. - 3. Defect Models. - 4. Defect Statistics. - 5. Fault Analysis. - 6. VLASIC Implementation. - 7. Redundancy Analysis System. - 8. Fabrication Data. - 9. Conclusions and Current Research. - References. Language: English
  • Marque: Unbranded
  • Catégorie: Informatique et Internet
  • Nombre de pages: 209
  • Date de publication: 2010/12/10
  • Editeur / Label: Springer
  • Format: Paperback
  • Langue: English
  • Artiste: D.M. Walker
  • Identifiant Fruugo: 337854104-741512756
  • ISBN: 9781441952011

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